1. 冷鏡式露點儀
不同水份含量的氣體在不同溫度下的鏡面上會結露。采用光電檢測技術，檢測出露層并丈量結露時的溫度，直接顯現(xiàn)露點。鏡面制冷的辦法有：半導體制冷、液氮制冷和高壓空氣制冷。冷鏡式露點儀采用的是直接丈量辦法，在保露點、鏡面制冷精細丈量結露溫度前提下，該種露點儀可作為規(guī)范露點儀運用。目前精度到達±0.1℃(露點溫度)
2. 電傳感器式露電儀
采用親水性資料或憎水性資料作為介質，構成電容或電阻，在含水份的氣體流經(jīng)后，介電常數(shù)或電導率發(fā)作相應變化，測出當時的電容值或電阻值，就能曉得當時的氣體水份含量。樹立在露點單位制上設計的該類傳感器，構成了電傳感器式露點剖析儀。目前精度到達±1.0℃(露點溫度)，如MICHELL公司的EASIDEW ON-LING，CERMX II、普通精度可到達±3℃以內。
3. 電介法露點儀
應用五氧化二磷等資料吸濕后合成成性分子，從而在電極上積聚電荷的特性，設計出樹立在含濕量單位制上的電解法微水份儀。目前精度到達±1.0℃(露點溫度)，普通精度可到達±3℃以內。此種方式對氣體的干凈請求比擬高，可測腐蝕性氣體，德國有一家公司有做，目前應用不多。
4. 晶體振蕩式露點儀
應用晶體沾濕后振蕩頻率改動的特性，能夠設計晶體振蕩式露點儀。這是一項較新的技術，目前尚處于不成熟的階段。國外有相關產(chǎn)品，但精度較差且本錢很高。
5. 紅外露點儀
應用氣體中的水份對紅外光譜吸收的特性，能夠設計紅外式露點儀。目前該儀器很難測到低露點，主要是紅外探測器的峰值探測率還不能到達微量水吸收的量級，還有氣體中其他成份含量對紅外光譜吸收的干擾。但這是一項很新的技術，關于環(huán)境氣體水份含量的非接觸式在線監(jiān)測具有重要的意義。
6. 半導體傳感器露點儀
每個水分子都具有其自然振動頻率，當它進入半導體晶格的空隙時，就和遭到充電鼓勵的晶格產(chǎn)生共振，其共振頻率與水的摩爾數(shù)成正比。水分子的共振能使半導體結放出自在電子，從而使晶格的導電率增大，阻抗減小。應用這一特性設計的半導體露點儀可測到-100℃露點的微量水份。
